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SATVision G1 全自动超声波缺陷检测设备
SATVision G1是优睿谱开发的一款针对键合晶圆的超声波缺陷检测全自动设备
SATVision G1 描述
  • 全自动操作,符合SEMI标准的FA及MES接口

  • 适配12寸晶圆

  • 搭载瀑布式阵列探头

  • 干进干出,内部集成旋转干燥模组

  • A/B/C扫描,支持多重Gate设定,支持常规/差行/高质量模式

  • 已通过SEMI S2/F47认证


可选配置:

高频探头;晶圆翻转功能;双notch键合晶圆识别预对准

晶圆边缘灰带宽度测量;缺陷自动分类;缺陷自动着色

缺陷统计自动去边;输出报告可定制化


  • 公司地址
    上海市浦东新区盛夏路570号1幢402室
  • 联系方式
    市场与销售:sales@avantsemi.com.cn
    求职招聘: talent@avantsemi.com.cn
    服务邮箱: service@avantsemi.com.cn
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